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Focused Ion Beam - Scanning Electron Microscope: sample preparation and volume imaging at room temperature and in cryo

(mis à jour)

Le 28 février 2022 à 14h00 Séminaire

Présentiel : Inscription obligatoire >>ICI<<

 

On line (Zoom) : >>ICI<<

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Sur invitation de

Lieu

Webinar + Auditorium, IGBMC

Conférencier(ère)s

Anna STEYER

EMBL Heidelberg Allemagne